Лазерная рентгеновская микроскопия

Ла́зерная рентге́новская микроскопи́я (flash diffractive imaging, Femtosecond diffractive imaging) — разновидность рентгеноструктурного анализа, основанного на дифракции рентгеновских лучей на исследуемом объекте. В отличие от традиционного рентгеноструктурного анализа, исследуется одиночные молекулы и их сочетания.

Для получения и дальнейшей регистрации дифракционной картины на одиночном объекте требуется:

• высокая концентрация энергии излучения на исследуемом объекте как из-за его размера (традиционный рентгеноструктурный анализ имеет дело с кристаллами из исследуемых объектов), так и из-за ограниченной чувствительности принимающей аппаратуры (при недостаточной энергии не удастся зафиксировать картину);
• малое время экспонирования, так как вследствие высокой концентрации энергии объект неизбежно разрушается излучением. Характерные временные интервалы — несколько фемтосекунд (10⁻¹⁵ с);
• высокая пространственная когерентность излучения (длина когерентности должна быть по крайней мере сравнима с длиной оптического пути прибора), в противном случае из-за малого времени экспонирования возникающее искажение фазы не позволит сформировать устойчивую дифракционную картину.

См. также

• Рентгеновское излучение
• Рентгеновский лазер
• Лазер
• Вынужденное излучение
• Рентгеновская оптика

Литература

• Henry N. Chapman, et al Femtosecond diffractive imaging with a soft-X-ray free-electron laser // Nature Physics 2, 839—843 (2006) doi:10.1038/nphys461 pdf
• Chapman, Coherent X-Ray Diffractive Imaging at LCLS, FLASH, and ALS, 2007

Ссылки

• Рентгеновский микроскоп взорвал лазером объекты наблюдения, Леонид Попов, 15 ноября 2006
• Scientists capture nanoscale images with short, intense X-ray laser // LLNL, November 12, 2006

Эта страница в последний раз была отредактирована 24 октября 2022 в 07:30.